Cypress Semiconductor AN6077 Manual do Utilizador Página 24

  • Descarregar
  • Adicionar aos meus manuais
  • Imprimir
  • Página
    / 88
  • Índice
  • MARCADORES
  • Avaliado. / 5. Com base em avaliações de clientes
Vista de página 23
2.3.3 Medición de resistencias.
Existen varios métodos para la medición de resistencias, los más precisos consisten
en la utilización de puentes de resistencias de precisión con un valor conocido y colocar la
resistencia de valor desconocido en uno de los brazos; sin embargo estos métodos son
bastante tediosos y generalmente no se necesita conocer el valor de aquellas con mucha
precisión, p.e., para un diseño de circuitos electrónicos un error de 1% es aceptable.
Para efectuar mediciones del valor óhmico de las resistencias se recurre nuevamente
a la ley de Ohm. En este caso para convertir la magnitud de la resistencia en un voltaje
equivalente se hace pasar una corriente de valor constante conocida a través de la
resistencia desconocida y se mide la diferencia de potencial en sus extremos. Luego con
una sencilla relación matemática se puede saber el valor de la misma.
El método anteriormente descrito puede ser utilizado para medir resistencias con
valores comprendidos entre unos cuantos ohmios hasta varios megaohmios. Si se desea
poder medir valores óhmicos inferiores a la unidad, se debe utilizar corrientes bastante
elevadas para poder obtener un voltaje perceptible en sus extremos, nuevamente se debe
tener cuidado que la resistencia no llegue a valores de temperatura peligrosos debido a una
corriente demasiado grande a través de ella.
2.3.4 Medidas de capacitancia.
Para la medición de capacitancias también existen varios métodos, que si bien dan
valores bastante exactos, su uso queda restringido al interior de laboratorios. Una forma
sencilla de encontrar la capacitancia consiste en aprovechar el comportamiento de los
14
Vista de página 23
1 2 ... 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 ... 87 88

Comentários a estes Manuais

Sem comentários